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J-GLOBAL ID：201602231375622409   Reference number：16A1348452

Shear stress enhanced fatigue damage accumulation in single crystalline silicon under cyclic mechanical loading

繰返し機械的負荷時の単結晶シリコンにおけるせん断応力疲労ダメージの蓄積

Author (4)： Kamiya Shoji (Nagoya Institute of Technology, Gokiso-cho, Showa-ku, Nagoya 466-8555, Japan) ,  Udhayakumar Arasu (Nagoya Institute of Technology, Gokiso-cho, Showa-ku, Nagoya 466-8555, Japan) ,  Izumi Hayato (Nagoya Institute of Technology, Gokiso-cho, Showa-ku, Nagoya 466-8555, Japan) ,  Koiwa Kozo (Nagoya Institute of Technology, Gokiso-cho, Showa-ku, Nagoya 466-8555, Japan)
Material： Sensors and Actuators. A. Physical  (Sens Actuators A)
Volume： 244  Page： 314-323  Publication year： Jun. 15, 2016 
JST Material Number： B0345C  ISSN： 0924-4247  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *silicon ,  shearing stress ,  *fatigue fracture ,  storage and accumulation ,  load ,  repeated load ,  *plastic deformation ,  tensile stress ,  growth striation ,  dislocation(crystal) ,  *monocrystal silicon ,  *slip deformation ,  lattice defect
Semi thesaurus term： mechanical load

Author keywords (6)： Single crystal silicon ,  Shear stress ,  Crystal slip ,  Defect accumulation ,  Striation-like pattern ,  Dislocation network

JST classification (1)： Testing of other materials  (HB05000T)

Terms in the title (6)： 機械的負荷 ,  単結晶シリコン ,  せん断応力 ,  疲労 ,  ダメージ ,  蓄積