Art

J-GLOBAL ID：201602245423931844   Reference number：16A0639835

X線による孤立クラスターの電子状態計測=ナノ触媒材料の高性能化を目指して=

Author (3)： HAYAKAWA TETSUICHIRO (コンポン研) ,  ARAKAWA MASASHI (九大) ,  TERASAKI AKIRA (九大)
Material： 光アライアンス  (Optical Alliance)
Volume： 27  Issue： 8  Page： 42-46  Publication year： Aug. 01, 2016 
JST Material Number： L1746A  ISSN： 0917-026X  CODEN： HARAEW  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *X-ray ,  *isolated system ,  *cluster ,  *electronic state ,  *measurement ,  *nanomaterial ,  *catalyst ,  X-ray absorption spectroscopy ,  element ,  selectivity ,  materials science
Semi thesaurus term： *performance enhancement

JST classification (2)： X-ray instruments and techniques  (BA02060D) ,  Atomic and molecular clusters  (BH09030O)

Terms in the title (6)： X線 ,  クラスター ,  電子状態 ,  計測 ,  触媒材料 ,  高性能化