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J-GLOBAL ID：201602257291202950   Reference number：16A0686335

先進材料開発を支える分析・解析・計測技術の最新潮流をさぐる-JASIS2016と分析・解析・計測技術-〔解説1-(2)〕材料開発・製品開発と分析機器の活用技術

Author (5)： SHIMIZU KEN'ICHI (東京都産業技術研究セ) ,  WATANABE SADAYUKI (東京都産業技術研究セ) ,  OGAWA DAISUKE (東京都産業技術研究セ) ,  YANAGI SHOHAN (東京都産業技術研究セ) ,  SOMEKAWA SHOICHI (東京都産業技術研究セ)
Material： 工業材料  (Engineering Materials)
Volume： 64  Issue： 9  Page： 31-35  Publication year： Sep. 01, 2016 
JST Material Number： F0172A  ISSN： 0452-2834  CODEN： KZAIA  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： material ,  *measurement ,  *product development ,  analytical instrument ,  secondary ion mass spectrometry ,  secondary ion ,  *surface analysis ,  solar cell ,  X-ray diffraction ,  chemical cleaning ,  particle size(diameter) ,  catalyst ,  abrasive compound ,  nano crystal ,  energy dispersive X-ray spectrometry ,  volatile organic compound ,  scanning electron microscope ,  TOF ,  nanostructure ,  diamond
Semi thesaurus term： scanning electron microscopy-energy dispersive X-ray spectroscopy ,  TOF-SIMS ,  Nanodiamonds ,  nanocatalyst ,  material development ,  advanced material

JST classification (1)： Electron and ion microscopes  (BD02050B)

Terms in the title (10)： 先進材料 ,  開発 ,  分析 ,  解析 ,  計測 ,  潮流 ,  計測技術 ,  材料開発 ,  分析機器 ,  活用