Art

J-GLOBAL ID：201602268069334262   Reference number：16A1359614

走査トンネル顕微鏡と電気抵抗測定で探る量子ホール効果

Author (2)： MASUTOMI RYUICHI (東大) ,  OKAMOTO TOORU (東大)
Material： 東京大学低温センター年報  (東京大学低温センター年次報告)
Issue： 7  Page： 6-12  Publication year： Nov. 2016 
JST Material Number： F1229A  Document type： Year Book
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *quantum Hall effect ,  electron system ,  low dimensional system ,  *indium arsenide ,  *indium antimonide ,  crystal face ,  atom ,  *scanning tunneling microscope ,  measurement ,  *electric resistance ,  compound semiconductor ,  2 dimensional electron system ,  cleavage face ,  adatom ,  electric resistance measurement
Semi thesaurus term： electric resistance measurement

JST classification (1)： General theory of electronic transport  (BM03020C)

Terms in the title (3)： 走査トンネル顕微鏡 ,  電気抵抗測定 ,  量子ホール効果