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J-GLOBAL ID：201602275744099310   Reference number：16A0814374

高解像度走査型電気化学顕微鏡の開発

Author (1)： TAKAHASHI YASUFUMI (金沢大)
Material： 化学と工業  (Chemistry & Chemical Industry)
Volume： 69  Issue： 9  Page： 777-778  Publication year： Sep. 01, 2016 
JST Material Number： F0107A  ISSN： 0022-7684  CODEN： KAKTAF  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *scanning probe microscope ,  Microscopy ,  Electrochemistry ,  high-resolution ,  technology development ,  scanning tunneling microscope ,  nanostructure ,  space resolving power ,  *microelectrode ,  position control ,  location information ,  applied research ,  oxidation-reduction reaction ,  *nano-electrode ,  *scanning electrochemical microscope ,  scanning ion-conductance microscope
Semi thesaurus term： scanning ion-conductance microscope

JST classification (2)： Electron and ion microscopes  (BD02050B) ,  Electrochemical reaction  (CB07050F)

Reference (5)：

• A. J. Bard, F. R. F. Fan, J. Kwak, O. Lev, Anal. Chem. 1989, 61, 132.
• a) Y. Takahashi, et al., Angew. Chem. Int. Ed. 2011, 50, 9638 ; b) Y. Takahashi, et al., Proc. Natl. Acad. Sci. U. S. A. 2012, 109, 11540.
• A. I. Shevchuk, et al., Angew. Chem. Int. Ed. 2006, 45, 2212.
• a) Y. Takahashi, et al., J. Am. Chem. Soc. 2010, 132, 10118 ; b) M. Sen, et al., Anal. Chem. 2015, 87, 3484 ; c) P. Actis, et al., Acs Nano 2014, 8, 875.
• Y. Zhang, et al., Acs Nano 2016, 10, 3214.

Terms in the title (3)： 高解像度 ,  走査型電気化学顕微鏡 ,  開発