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J-GLOBAL ID：201603001390416250

自閉症スペクトラムの検査方法。

Inventor： 横山 茂 ,  東田 陽博 ,  棟居 俊夫
Applicant, Patent owner： 国立大学法人金沢大学
Agent (4)： 庄司 隆 ,  資延 由利子 ,  大杉 卓也 ,  曽我 亜紀
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2015029837
Publication number (International publication number)：2016149988
Application date： Feb. 18, 2015
Publication date： Aug. 22, 2016
Summary：

【課題】新規な自閉症スペクトラムの検査方法を提供すること。【解決手段】BST-1遺伝子上に存在する塩基の一塩基多型及び該塩基と連鎖不均衡にある塩基の一塩基多型が自閉症スペクトル障害と関連性を有することを見出し、本発明を完成した。【選択図】なし

Claim (excerpt)：

被験者から取得したサンプル中のBST-1遺伝子上に存在する塩基の一塩基多型又は連鎖不均衡にある塩基の一塩基多型を検出することを特徴とする自閉症スペクトラムの検査方法。

IPC (2)：

C12N 15/09 ,  C12Q 1/68

FI (2)：

C12N15/00 A ,  C12Q1/68 A

F-Term (11)：

4B024AA11 ,  4B024CA09 ,  4B024HA12 ,  4B063QA01 ,  4B063QA12 ,  4B063QA19 ,  4B063QQ02 ,  4B063QQ42 ,  4B063QQ58 ,  4B063QR55 ,  4B063QS34