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J-GLOBAL ID：201603002006144385

光パルスの強度と位相を測定する装置及び方法

Inventor： 藤 貴夫 ,  野村 雄高
Applicant, Patent owner： 大学共同利用機関法人自然科学研究機構
Agent (1)： 大川 宏
Gazette classification：再公表公報
Application number (International application number)：JP2013002735
Publication number (International publication number)：WO2013161282
Application date： Apr. 23, 2013
Publication date： Oct. 31, 2013
Summary：

任意の時間幅をもつ光パルスの分光強度及び分光位相の絶対値を測定する方法及び装置を提供すること。 光遅延手段で遅延された電場Er(t-τ)をもつ参照光パルスと電場E0(t)をもつ被計測光パルスとを非線形混合して次式(★は一般的な非線形混合を表す演算子であり、αはその非線形混合における非線形感受率に比例する係数である。)で表される信号光パルスを作る非線形混合手段と、Er(t-τ)+αEr(t-τ)★E0(t) 前記信号光パルスを分光して次式(Fはフーリエ変換を表す記号である。*は複素共役を表す。Rは実数部(Real part)を表す記号である。)で表されるフーリエ変換信号を出力するイメージング分光装置と、を有し、|F[Er(t-τ)]|2+|αF[Er(t-τ)★E0(t)]|2+2R{αF[Er(t-τ)]}*・F[Er(t-τ)★E0(t)]}前記フーリエ変換信号の第2項の信号(周波数分解光ゲート信号)と前記フーリエ変換信号の第3項の信号(電気光学サンプリング信号)から前記被計測光パルスの強度と位相を求めることを特徴とする。

Claim (excerpt)：

時間tと共に変化する電場E0(t)をもつ被計測光パルスと電場Er(t)をもつ参照光パルスとの時間遅延τを変更する光遅延手段と、 前記光遅延手段で遅延された電場Er(t-τ)をもつ前記参照光パルスと前記被計測光パルスとを非線形混合して次式(★は一般的な非線形混合を表す演算子であり、αはその非線形混合における非線形感受率に比例する係数である。)で表される信号光パルスを作る非線形混合手段と、 Er(t-τ)+αEr(t-τ)★E0(t)

IPC (2)：

G01J 11/00 ,  G01J 9/02

FI (2)：

G01J11/00 ,  G01J9/02

F-Term (11)：

2G065AA12 ,  2G065AB14 ,  2G065AB26 ,  2G065AB30 ,  2G065BB10 ,  2G065BB14 ,  2G065BB28 ,  2G065BB32 ,  2G065BB36 ,  2G065BC13 ,  2G065BC35