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J-GLOBAL ID：201603002889298344

二次代謝系遺伝子を含む遺伝子クラスタの予測方法、予測プログラム及び予測装置

Inventor： 町田 雅之 ,  梅村 舞子 ,  小池 英明 ,  竹田 至
Applicant, Patent owner： 国立研究開発法人産業技術総合研究所
Agent (2)： 平木 祐輔 ,  藤田 節
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2014536957
Patent number：5946149
Application date： Sep. 24, 2013
Claim (excerpt)：

【請求項1】 少なくとも一対のゲノム塩基配列情報に含まれる遺伝子に関して相互に相同性検索し、これらゲノム塩基配列情報間で相同遺伝子の組み合わせ、相同遺伝子の組み合わせのなかでオーソログ遺伝子の組み合わせを同定する工程と、 上記相同性検索の結果に基づいて他のゲノム塩基配列情報との間で遺伝子の並びが保存されている領域を遺伝子クラスタとして特定する工程と、 上記工程で特定された遺伝子クラスタのうち、上記相同性検索の結果のうちオーソログ遺伝子の存在に基づいてシンテニー様領域を特定し、当該シンテニー様領域が占める割合に基づいて、当該遺伝子クラスタが二次代謝系遺伝子を含む遺伝子クラスタであるか判定する工程と を含む二次代謝系遺伝子を含む遺伝子クラスタの予測方法。

IPC (2)：

G06F 19/18 ( 201 1.01) ,  G06F 19/00 ( 201 1.01)

FI (2)：

G06F 19/18 ,  G06F 19/00 100