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J-GLOBAL ID：201603003679299484

測定方法

Inventor： アンドレ ミツナリック ,  ベルンハード フォン ヴァルドキリッヒ ,  クリスティアン シュレッピー ,  クリスティアン ゾス ,  エルンスト リンドリスバッハー ,  イヨルグ ブライテンシュタイン ,  カスパー バルツァー ,  ルツィオ ロブレド ,  ピーター スタルダー ,  ズィルヤ キリヤンタン
Applicant, Patent owner： ハーグ-シュトライト アーゲー
Agent (7)： 岡部 讓 ,  越智 隆夫 ,  高橋 誠一郎 ,  松井 孝夫 ,  内田 浩輔 ,  川内 英主 ,  岩附 秀幸
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2015221481
Publication number (International publication number)：2016093507
Application date： Nov. 11, 2015
Publication date： May. 26, 2016
Summary：

【課題】本発明の目的は、特に高速に高分解能で実施することができる、物体上の測定点を記録する方法を開発することである。【解決手段】物体上の、特に、眼上の測定点を記録するための方法において、測定ビームによって、軸長プロファイルを判定するための、物体の表面、特に物体の湾曲表面上の軌跡に沿った測定点が記録される。ここで、軌跡の最小曲率半径は、表面の円周の半径の少なくとも1/7、好ましくは少なくとも1/5、特に好ましくは少なくとも1/3である。【選択図】図4

Claim (excerpt)：

物体上の、特に、眼上の測定点を記録する方法において、測定ビームによって、軸長プロファイルを記録するための、前記物体の表面、特に前記物体の湾曲表面上の軌跡に沿った測定点が記録される、方法であって、前記軌跡の最小曲率半径は、前記表面の円周の半径の少なくとも1/7、好ましくは少なくとも1/5、特に好ましくは少なくとも1/3である、方法。

IPC (3)：

A61B 3/10 ,  G01B 11/00 ,  G01B 11/24

FI (4)：

A61B3/10 R ,  G01B11/00 H ,  G01B11/24 D ,  G01B11/24 K

F-Term (12)：

2F065AA04 ,  2F065AA46 ,  2F065AA52 ,  2F065AA53 ,  2F065BB07 ,  2F065CC16 ,  2F065FF11 ,  2F065FF51 ,  2F065GG04 ,  2F065HH04 ,  2F065MM11 ,  2F065QQ17

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 画像処理装置及び画像処理方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2013-120095   Applicant：キヤノン株式会社
• 光画像計測装置、光画像計測プログラム、眼底観察装置及び眼底観察プログラム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-337628   Applicant：株式会社トプコン, 国立大学法人筑波大学
• 特開平1-196682
  

Cited by examiner (3)

• 画像処理装置及び画像処理方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2013-120095   Applicant：キヤノン株式会社
• 光画像計測装置、光画像計測プログラム、眼底観察装置及び眼底観察プログラム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-337628   Applicant：株式会社トプコン, 国立大学法人筑波大学
• 特開平1-196682