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J-GLOBAL ID:201603003708473251
磁気的非破壊検査装置。
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2014242858
Publication number (International publication number):2016105046
Application date: Dec. 01, 2014
Publication date: Jun. 09, 2016
Summary:
【課題】 測定対象に交流磁場を印加することで発生する渦電流の分布を計測して、測定対象の欠陥の有無を検出する磁気的非破壊検査装置を提供する。【解決手段】励磁コイル(1)で発生させた交流磁場によって測定対象(8)に生じた渦電流に基づく磁場を検出して、検出された磁気の大きさ情報と位相情報に基づいて測定対象に生じた欠陥を検出する磁気的非破壊検査装置において、磁気検出部(5)は2つの磁気センサ(10,11)を有し、この各磁気センサは励磁コイル(1)のコイル面と平行となる平面上で互いに直行する第1の方向と第2の方向のベクトル成分を検出し、解析部(9)はロックインアンプ回路(7)を有し、このロックインアンプ回路(7)で、励磁コイル(1)で発生させた交流磁場の周波数の偶数倍の高調波で磁気センサ(10,11)の出力信号を検出して解析する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
測定対象に交流磁場を作用させる励磁コイルと、
この励磁コイルで発生させた交流磁場によって前記測定対象に生じた渦電流に基づく磁場を検出する磁気検出部と、
この磁気検出部で検出された磁気の大きさ情報と位相情報に基づいて前記測定対象に生じた欠陥を検出可能する解析部と
を備えた磁気的非破壊検査装置において、
前記磁気検出部は2つの磁気センサを有し、この各磁気センサは前記励磁コイルのコイル面と平行となる平面上で互いに直行する第1の方向と第2の方向のベクトル成分を検出し、
前記解析部はロックインアンプ回路を有し、このロックインアンプ回路で、前記励磁コイルで発生させた交流磁場の周波数の偶数倍の高調波で前記磁気センサの出力信号を検出して解析すること
を特徴とする磁気的非破壊検査装置。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (10):
2G053AB21
, 2G053BC02
, 2G053BC14
, 2G053CA01
, 2G053CA18
, 2G053CB16
, 2G053DA01
, 2G053DA10
, 2G053DB02
, 2G053DB03
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