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J-GLOBAL ID：201603004794390874

撮像装置および画像処理方法

Inventor： 長井 健太郎 ,  武田 光夫
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (6)： 世良 和信 ,  川口 嘉之 ,  和久田 純一 ,  坂井 浩一郎 ,  中村 剛 ,  丹羽 武司
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2011248717
Publication number (International publication number)：2013102951
Patent number：5868132
Application date： Nov. 14, 2011
Publication date： May. 30, 2013
Claim (excerpt)：

【請求項1】 シアリング干渉計により得られる干渉パターンに基づいて位相像のデータを生成する撮像装置であって、 被検体を透過した電磁波により形成された干渉パターンのデータから、第1の方向に関する位相の変化を表す第1の微分位相データと、前記第1の方向に交差する第2の方向に関する位相の変化を表す第2の微分位相データとを抽出する微分位相データ抽出手段と、 抽出された前記第1の微分位相データを前記第1の方向に関して微分することによって第1の二階微分位相データを算出すると共に、抽出された前記第2の微分位相データを前記第2の方向に関して微分することによって第2の二階微分位相データを算出する二階微分位相データ算出手段と、 前記第1および第2の二階微分位相データを関数として含む二階微分方程式を解くことによって、前記被検体の位相像のデータを算出する位相データ算出手段と、 を有することを特徴とする撮像装置。

IPC (2)：

A61B 6/00 ( 200 6.01) ,  G01N 23/04 ( 200 6.01)

FI (2)：

A61B 6/00 330 Z ,  G01N 23/04