Pat

J-GLOBAL ID：201603004869280271

X線撮像装置及びX線撮像方法

Inventor： 米山 明男 ,  馬場 理香 ,  上田 和浩
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (3)： 井上 学 ,  戸田 裕二 ,  岩崎 重美
Gazette classification：再公表公報
Application number (International application number)：JP2012073570
Publication number (International publication number)：WO2014041675
Application date： Sep. 14, 2012
Publication date： Mar. 20, 2014
Summary：

X線源1から出射した多色X線13を複数の結晶板2、4に入射し、測定に必要なエネルギーのX線を、X線回折の反射により選択的に取り出す。そして、取り出した各エネルギーのX線を同時に試料18に照射して各画像を得る。これにより、線吸収係数が等しいが密度が異なる物質の観察や、特定元素の可視化を可能にすることができる。

Claim (excerpt)：

多色X線を放射するX線源と、 前記多色X線のうち、第1のエネルギーのX線を回折する第1の結晶板と、前記多色X線のうち、前記第1のエネルギーとは異なる第2のエネルギーのX線を回折する第2の結晶板と、 前記第1のエネルギーのX線と前記第2のエネルギーのX線を、被写体が透過するように設置された前記被写体の設置台と、 前記被写体を透過した前記第1のエネルギーのX線と前記第2のエネルギーのX線とを検出する検出器と、 前記検出器で検出された透過像から、空間分布像を生成する画像処理部とを有することを特徴とするX線撮像装置。

IPC (1)：

G01N 23/04

FI (1)：

G01N23/04 320

F-Term (7)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001BA18 ,  2G001CA01 ,  2G001HA08 ,  2G001HA16 ,  2G001KA02