Pat
J-GLOBAL ID:201603005219899990

重回帰分析装置および重回帰分析方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 特許業務法人 谷・阿部特許事務所
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2014154743
Publication number (International publication number):2016031714
Application date: Jul. 30, 2014
Publication date: Mar. 07, 2016
Summary:
【課題】時系列データに関して行われる重回帰分析では、時系列データがある時間ごとにサンプリングされた離散的なデータとして扱われるため、対象とするデータの時間変化が重回帰分析の中に十分に含まれていなかった。観測されるデータの極値の細部まで予測精度を高めることには限界があり、時系列データの解析は、クラスタリング手法に基づいたデータ特徴量分類などの重回帰モデルとは別の統計解析手法を必要としていた。【解決手段】本発明の重回帰分析装置および方法では、従来技術で用いられていた説明変数だけではなく、既存の説明変数から派生して得られる微分演算を施したデータを新たな微分説明変数として加える。従来技術の重回帰分析の枠組みをそのまま使用したままで、時系列データの目的変数の予測精度を向上させることができる。目的変数の時系列データの予測において、別個の解析手法を用いる必要はなく、従来技術と連続性がある単一の重回帰モデルを用いながらも、時間変動特性を含めた統一的な解析が実現される。【選択図】図1
Claim (excerpt):
少なくとも2種類の説明変数から、時系列データの目的変数を予測する重回帰分析装置において、 重回帰係数の計算を含むデータ解析を行うことになる、前記2種類以上の説明変数のデータが入力されるデータ入力部と、 前記入力された少なくとも2種類以上の説明変数の前記データに対して、少なくとも1回以上の微分を施す微分演算を実行し、微分演算を施された微分説明変数を生成するよう構成された微分解析部であって、前記微分演算は、前記少なくとも2種類以上の説明変数の各々の時系列データに対する時間微分である微分解析部と、 前記少なくとも2種類以上の説明変数の各々および対応する重回帰係数の積の総和項と、前記微分演算を施された前記微分説明変数の各々および対応する重回帰係数の積の少なくとも1種類以上の総和項とを含む前記目的変数の予測式に対して、 最小二乗法によって、前記説明変数の前記各重回帰係数および前記微分説明変数の前記各重回帰係数をそれぞれ決定し、 前記決定された重回帰係数を戻した前記予測式に、前記少なくとも2種類以上の説明変数の実測値を代入して前記目的変数の予測値を求めるよう構成された重回帰予測計算部と を備えたことを特徴とする装置。
IPC (2):
G06F 19/00 ,  G06F 17/17
FI (2):
G06F19/00 100 ,  G06F17/17
F-Term (2):
5B056BB51 ,  5L049DD01

Return to Previous Page