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J-GLOBAL ID：201603011470154040

光ファイバ特性測定装置及び光ファイバ特性測定方法

Inventor： 保立 和夫 ,  山下 健二 ホドリーゴ ,  何 祖源
Applicant, Patent owner： 国立大学法人 東京大学
Agent (3)： 吉田 正義 ,  今枝 弘充 ,  梅村 裕明
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2012187003
Publication number (International publication number)：2014044129
Patent number：5936057
Application date： Aug. 27, 2012
Publication date： Mar. 13, 2014
Claim (excerpt)：

【請求項1】 周波数変調された光を出力する光源と、 前記光源からの第1偏波光を周波数シフトさせ、偏波保持特性を有した被測定光ファイバの一端からプローブ光として入射させるプローブ光生成手段と、 前記光源からの第1偏波光を、前記被測定光ファイバの他端からポンプ光として入射させるポンプ光生成手段と、 前記光源からの第2偏波光を、前記被測定光ファイバの他端からリード光として入射させるリード光生成手段と、 前記ポンプ光と前記プローブ光とにより前記被測定光ファイバ内に形成されたブリルアンダイナミックグレーティングによって反射される前記リード光の反射スペクトルを検出し、前記被測定光ファイバの特性を測定する測定手段とを備えた光ファイバ特性測定装置であって、 前記第1偏波光に対する周波数変調に同期して、該第1偏波光に強度変調を施す強度変調手段を備える ことを特徴とする光ファイバ特性測定装置。

IPC (2)：

G01D 5/353 ( 200 6.01) ,  G01M 11/00 ( 200 6.01)

FI (2)：

G01D 5/353 B ,  G01M 11/00 U