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J-GLOBAL ID：201603015319134261

電気化学測定用の金ナノ粒子含有カーボン薄膜電極及び当該電極を用いたヒ素イオンの電気化学検出法

Inventor： 加藤 大 ,  加藤 大喜 ,  鎌田 智之 ,  柳澤 博幸 ,  丹羽 修
Applicant, Patent owner： 国立研究開発法人産業技術総合研究所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2014195454
Publication number (International publication number)：2016065815
Application date： Sep. 25, 2014
Publication date： Apr. 28, 2016
Summary：

【課題】 電極として十分な導電性を有し、なおかつヒ素に対して優れた電極触媒活性を有する金ナノ粒子含有カーボン薄膜電極、及び、その簡便な製造方法を提供すること。【解決手段】 測定対象溶液中でヒ素イオンを還元堆積および酸化溶出に基づく電極反応により検出するための電気化学測定用カーボン薄膜電極であって、電気化学測定用カーボン薄膜電極は、炭素間の結合様式についてsp2結合とsp3結合とが混在する微結晶ドメインより構成されており、これによりグラファイトカーボン電極およびグラッシーカーボン電極よりも広い範囲の電位窓を有し、かつ、金ナノ粒子を均一に含有することを特徴とする。【選択図】なし

Claim (excerpt)：

測定対象溶液中でヒ素イオンを還元堆積および酸化溶出に基づく電極反応により検出するための電気化学測定用カーボン薄膜電極であって、 前記電気化学測定用カーボン薄膜電極は、炭素間の結合様式についてsp2結合とsp3結合とが混在する微結晶ドメインより構成されており、これによりグラファイトカーボン電極およびグラッシーカーボン電極よりも広い範囲の電位窓を有し、かつ、 金ナノ粒子を均一に含有することを特徴とする電気化学測定用カーボン薄膜電極。

IPC (2)：

G01N 27/30 ,  G01N 27/48

FI (2)：

G01N27/30 B ,  G01N27/48 301

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• ホウ素ドープ導電性ダイヤモンド電極を用いた電気化学的分析方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2007-054284   Applicant：学校法人慶應義塾
• 電気化学測定用カーボン電極及びその製造方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2012-069653   Applicant：独立行政法人産業技術総合研究所, 株式会社ユニバーサルシステムズ
• 電気化学測定用炭素電極及びその製造方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-277406   Applicant：独立行政法人産業技術総合研究所, 学校法人慶應義塾, エヌ・ティ・ティ・アフティ株式会社
• ナノ金属微粒子含有炭素薄膜電極及びその製造方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-314980   Applicant：日本電信電話株式会社, エヌ・ティ・ティ・アフティ株式会社

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 金属ドープECRスパッタナノカーボン薄膜電極を用いた糖類の電気化学測定