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J-GLOBAL ID：201603015451236448

液浸透過測定に用いる光学素子、透過プローブ、サンプル容器、光学装置および液浸透過測定方法

Inventor： 鈴木 泰幸 ,  中村 幸弘 ,  生田目 哲志
Applicant, Patent owner： 横河電機株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2015050473
Publication number (International publication number)：2016170077
Application date： Mar. 13, 2015
Publication date： Sep. 23, 2016
Summary：

【課題】空隙内のサンプル液に光を照射して透過測定する際に、サンプル液の空隙への浸入を容易にする。【解決手段】半円板状の光透過材あるいは半球状の光透過材であって、半円周上の一部あるいは半円球面上の一部に、切り欠き状の空隙が形成されている液浸透過測定に用いる光学素子。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

半円板状の光透過材であって、半円周上の一部に、切り欠き状の空隙が形成されていることを特徴とする液浸透過測定に用いる光学素子。

IPC (1)：

G01N 21/357

FI (1)：

G01N21/3577

F-Term (10)：

2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059FF07 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK01 ,  2G059LL03

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

• 光学測定用プローブ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-259967   Applicant：倉敷紡績株式会社
• 液浸プローブ及び赤外分光光度計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2013-121044   Applicant：西進商事株式会社
• 光学式センサ及び光学式センサシステム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2013-136515   Applicant：ナブテスコ株式会社
• 液中粒子濃度検出装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-326055   Applicant：日本電装株式会社

Cited by examiner (4)

• 光学測定用プローブ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-259967   Applicant：倉敷紡績株式会社
• 液浸プローブ及び赤外分光光度計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2013-121044   Applicant：西進商事株式会社
• 光学式センサ及び光学式センサシステム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2013-136515   Applicant：ナブテスコ株式会社
• 液中粒子濃度検出装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-326055   Applicant：日本電装株式会社