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J-GLOBAL ID：201603019792861460

SARインターフェログラムからの垂直構造の抽出方法

Inventor： 上本 純平
Applicant, Patent owner： 国立研究開発法人情報通信研究機構
Agent (3)： 福田 賢三 ,  福田 伸一 ,  加藤 恭介
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2014224303
Publication number (International publication number)：2016090361
Application date： Nov. 04, 2014
Publication date： May. 23, 2016
Summary：

【課題】HOA(Height Of Ambiguity)に関する制約が緩く、高度情報を必要とせず、大概の形状で、インターフェログラムから垂直構造を抽出する方法を提案する。【解決手段】干渉SARの出力データから、垂直構造を抽出する方法であって、1)所定の横幅と、観測時のオフナディア角に従った長さで位置に応じたサイズの垂直構造抽出フィルタを設定し、2)垂直構造抽出フィルタを上干渉画像データ上で走査しつつ、それぞれの位置における垂直構造抽出フィルタ内の画像ピクセルについて、レイオーバー倒れ込み量と観測位相差が線形依存関係にあることを、該線形依存関係の余弦変換と正弦変換とを用いて判定し、上記走査位置が垂直構造を持つことを記録し、3)所定の範囲にある垂直構造を一連のものとしてグループ化し、4)それを一塊の垂直構造画像として整理し、5)垂直構造の高さに変換する。【選択図】図6

Claim (excerpt)：

干渉合成開口レーダの出力干渉画像データまたはインターフェロメトリデータから、垂直構造を抽出する方法であって、 所定の横幅と、観測時のオフナディア角の余弦に従ってスラントレンジの手前側で大きく遠方側で小さくした縦長さと、を持つ様に垂直構造抽出フィルタをそのスラントレンジ位置に応じて設定するステップと、 上記垂直構造抽出フィルタを上記干渉画像データやインターフェロメトリデータ出力データ上で走査しつつ、それぞれの位置における該垂直構造抽出フィルタ内の画像ピクセルについて、レイオーバー倒れ込み量と観測位相差が線形依存関係にあることを、該線形依存関係の余弦変換と該線形依存関係の正弦変換とを用いて判定し、上記走査位置が垂直構造画像候補のピクセルであることを記録するステップと、 所定の範囲にある垂直構造画像候補のピクセルを一連の垂直構造としてグループ化し垂直構造画像候補とするステップと、 上記垂直構造画像候補を、連続して存在する垂直構造画像として整理するステップと、 整理によって得られた上記垂直構造画像から上記垂直構造の高さを求めるステップと、 を含むことを特徴とする、SARインターフェログラムからの垂直構造の抽出方法。

IPC (3)：

G01S 13/90 ,  G01S 7/32 ,  G06T 1/00

FI (3)：

G01S13/90 ,  G01S7/32 F ,  G06T1/00 285

F-Term (30)：

5B057AA14 ,  5B057CA08 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB13 ,  5B057CB16 ,  5B057CD14 ,  5B057CE08 ,  5B057CH11 ,  5B057DA07 ,  5B057DA16 ,  5B057DB03 ,  5B057DB09 ,  5B057DC03 ,  5B057DC09 ,  5B057DC32 ,  5J070AA11 ,  5J070AC03 ,  5J070AE07 ,  5J070AF06 ,  5J070AF08 ,  5J070AH19 ,  5J070AH31 ,  5J070AH39 ,  5J070AJ10 ,  5J070AJ14 ,  5J070AK22 ,  5J070BE02 ,  5J070BE04