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J-GLOBAL ID：201603020347033130

自動化された鉱物分類

Inventor：
マイケル・ジェイムズ・オーウェン

About マイケル・ジェイムズ・オーウェン

, 
マイケル・ビュオー

About マイケル・ビュオー


Applicant, Patent owner：
エフ・イ-・アイ・カンパニー

About エフ・イ-・アイ・カンパニー


Agent (1)： 雨貝 正彦
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2015539608
Publication number (International publication number)：2015536457
Application date： Sep. 30, 2013
Publication date： Dec. 21, 2015
Summary：
本発明は、既存の2つの鉱物分析法の組合せを開示し、組成に関する理論的な用語で鉱物定義を記述することを可能にする類似距離法を利用する。これは、ユーザが、それぞれの鉱物の例を見つけ出したり、または規則を調整したりする必要がないことを意味する。広範囲にわたる訓練および専門知識を必要とした以前のシステムとは対照的に、このシステムは、訓練されていないオペレータがシステムを使用することを可能にする。
Claim (excerpt)：
試料の鉱物内容を決定する方法であって、 走査電子顕微鏡内に試料を置くこと、 前記試料のX線スペクトルおよび後方散乱電子強度値を得るために、前記試料上の点に電子ビームを導くことであり、前記X線スペクトルおよび前記後方散乱電子強度値が第1のデータ点に対応し、前記データ点が、関連した鉱物組成を有すること、 前記データ点を、規則の第1のセット内の、それぞれが鉱物組成に対応する判定基準と順番に比較し、前記データ点の前記鉱物組成を、満たされた最初の判定基準に対応する鉱物組成として同定すること、 前記データ点が、前記規則の第1のセット内の前記判定基準のいずれをも満たさなかった場合に、鉱物ライブラリ内の鉱物のうちのどの鉱物が前記データ点に対するベスト・マッチであるかを決定するために、前記データ点の前記X線スペクトルを、前記鉱物ライブラリ内の鉱物に対応するX線スペクトルと比較すること、ならびに 前記データ点の前記X線スペクトルと前記ライブラリ内の前記X線スペクトルとの一致の程度が所定のしきい値を満たす場合に、前記データ点の前記鉱物組成を、前記ベスト・マッチであるライブラリ・スペクトルに対応する前記鉱物組成として同定すること を含む方法。
IPC (2)：
G01N 23/225 ,  G01N 23/203
FI (2)：
G01N23/225 312 ,  G01N23/203
F-Term (9)：
2G001AA03 ,  2G001BA05 ,  2G001BA07 ,  2G001BA15 ,  2G001CA01 ,  2G001CA03 ,  2G001GA01 ,  2G001GA06 ,  2G001LA03
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
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