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J-GLOBAL ID：201702218959568010   Reference number：17A0378470

Microscopy of fluctuations.

揺らぎをナノスケールで観察する顕微鏡

Author (3)： KAJIHARA YUSUKE (東大 生産技研) ,  KOMIYAMA SUSUMU (東大 大学院総合文化研究科) ,  KOMIYAMA SUSUMU (情報通信研究機構)
Material： 応用物理  (JSAP International)
Volume： 86  Issue： 3  Page： 198-203  Publication year： Mar. 10, 2017 
JST Material Number： F0252A  ISSN： 0369-8009  CODEN： OYBSA  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *fluctuation ,  *Microscopy ,  surface ,  *fluorescence microscope ,  *evanescent wave ,  hot electron ,  probe ,  phototransistor ,  metal wire ,  thin metallic wire ,  metal surface ,  *total internal reflection fluorescence microscope
Semi thesaurus term： *evanescent microscope ,  *ゆらぎ顕微鏡

JST classification (1)： Optical instruments and techniques in general  (BD07010S)

Reference (29)：

• Y. Inouye and S. Kawata: Opt. Lett. 19, 159 (1994).
• B. Knoll and F. Keilmann: Nature 399, 134 (1999).
• M. Eisele, T.L. Cocker, M.A. Huber, M. Plankl, L. Viti, D. Ercolani, L. Sorba, M.S. Vitiello, and R. Huber: Nat. Photonics 8, 841 (2014).
• S. Komiyama, O. Astafiev, V. Antonov, T. Kutsuwa, and H. Hirai: Nature 403, 405 (2000).
• R. Fitzgerald: Phys. Today 53, 20 (2000).

Terms in the title (4)： 揺らぎ ,  ナノスケール ,  観察 ,  顕微鏡