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J-GLOBAL ID：201702221858561034   Reference number：17A1810260

Determination of minimum detectable refraction angle in X-ray diffraction-enhanced imaging via standard test piece

X線回折増強イメージングにおける最小検出可能屈折角度の決定:標準試験片による

Author (6)： MIZUNO Kaoru (Shimane Univ., Matsue, JPN) ,  IKEYA Hitoshi (Shimane Univ., Matsue, JPN) ,  INOUE Kenzou (Kanazawa Univ., Kanazawa, JPN) ,  FUJIMORI Akane (Kanazawa Univ., Kanazawa, JPN) ,  FUJIMORI Akane (Tsukuba International Univ., Ibaraki, JPN) ,  OKAMOTO Hiroyuki (Kanazawa Univ., Kanazawa, JPN)
Material： Japanese Journal of Applied Physics  (JJAP)
Volume： 56  Issue： 6  Page： 066601.1-066601.4  Publication year： Jun. 2017 
JST Material Number： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *X-ray diffraction ,  *synchrotron radiation ,  image technology ,  image formation(optics) ,  *phantom
Semi thesaurus term： coherent X-ray diffraction imaging ,  diffraction image

JST classification (1)： X-ray diffraction methods  (BK01020I)

Reference (24)：

• L. V. Azariff, B. Kaplow, N. Kato, P. Weiss, W. Wilson, and S. Young, X-ray Diffraction (McGraw-Hill, New York, 1974) p. 180.
• E. F?rster, K. Goetz, and P. Zaumseil, Cryst. Res. Technol. 15, 937 (1980).
• K. M. Podurets, V. A. Somenkov, and S. Sh. Shil'shtein, Sov. Phys. Tech. Phys. 34, 654 (1989).
• V. N. Ingal and E. A. Beliaevskaya, J. Phys. D 28, 2314 (1995).
• T. J. Davis, D. Gao, T. E. Gureyev, A. W. Stevenson, and S. W. Wilkins, Nature 373, 595 (1995).

Terms in the title (6)： X線回折 ,  増強 ,  イメージング ,  屈折角度 ,  標準 ,  試験片