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J-GLOBAL ID：201702222367501492   Reference number：17A1016260

μPH-FIMを用いた単一表面原子領域の局所仕事関数分布の測定

Author (2)： OTA YASUSHI (大阪市大 大学院) ,  KOBAYASHI ATARU (大阪市大 大学院)
Material： 表面科学学術講演会講演要旨集  (表面科学学術講演会要旨集)
Volume： 37th  Page： 65  Publication year： Aug. 17, 2017 
JST Material Number： L1366A  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： field ion microscope ,  *work function ,  electronic state ,  *Tungsten ,  nanostructure ,  projection portion ,  *field intensity ,  electron density
Semi thesaurus term： FIM ,  electric field intensity

JST classification (2)： Electron and ion microscopes  (BD02050B) ,  Electron emission in general  (BM09010H)

Terms in the title (5)： pH ,  FIM ,  原子 ,  仕事関数 ,  分布