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J-GLOBAL ID：201702232250382643   Reference number：17A1959426

A self-adaptive class-imbalance TSK neural network with applications to semiconductor defects detection

半導体欠陥検出に適用した自己適応クラス不均衡TSKニューラルネットワーク【Powered by NICT】

Author (3)： Tan Shing Chiang (Faculty of Information Science and Technology, Multimedia University, Melaka Campus, Jalan Ayer Keroh Lama, 75450 Bukit Beruang, Melaka, Malaysia) ,  Wang Shuming (School of Economics and Management, University of Chinese Academy of Sciences, No. 80, Zhongguancun East Road, Beijing, 100190, China) ,  Watada Junzo (Department of Computer and Information Sciences, Universiti Teknologi PETRONAS, 32610 Seri Iskandar, Perak Darul Ridzuan, Malaysia)
Material： Information Sciences  (Inf Sci)
Volume： 427  Page： 1-17  Publication year： 2018 
JST Material Number： D0636A  ISSN： 0020-0255  CODEN： ISIJBC  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Abstract/Point： This paper develops a hybrid a...

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Thesaurus term： statistical method ,  inference machine ,  supervised learning ,  fuzzy inference ,  benchmark ,  generalization ,  *neural network(biomodel) ,  *semiconductor ,  *fault detection
Semi thesaurus term： *不均衡 ,  適応共鳴理論 ,  *クラス不均衡 ,  *自己適応 , 【Automatic Indexing@JST】

Author keywords (5)： Class imbalance ,  Class overlap ,  Data shift ,  TSK inference mechanism ,  ANN

JST classification (2)： Artificial intelligence  (JE08000Z) ,  System and control theory in general  (IA02010H)

Terms in the title (4)： 欠陥検出 ,  自己適応 ,  クラス不均衡 ,  ニューラルネットワーク