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J-GLOBAL ID：201702244240446723   Reference number：17A1955620

Virtual substrate method for nanomaterials characterization

ナノ材料キャラクタリゼーションに用いる仮想基板法

Author (3)： DA Bo (National Inst. for Materials Sci., Ibaraki, JPN) ,  YOSHIKAWA Hideki (National Inst. for Materials Sci., Ibaraki, JPN) ,  TANUMA Shigeo (National Inst. for Materials Sci., Ibaraki, JPN)
Material： Program/Abstracts of ISSS (CD-ROM)  (Program/Abstracts. International Symposium on Surface Science (CD-ROM))
Volume： 8th  Page： ROMBUNNO.5aA1-1  Publication year： 2017 
JST Material Number： L8395B  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *nanomaterial ,  *substrate(plate) ,  solid state device ,  drug ,  thin film ,  *characterization ,  *virtual reality ,  nanostructure ,  probe ,  spectrum ,  surface quality ,  surface structure ,  *surface analysis ,  electron ,  secondary electron emission ,  morphology ,  *spectrochemical analysis
Semi thesaurus term： core electron ,  bulk ,  secondary electron ,  *仮想基板法 ,  morphology ,  reflex

JST classification (2)： Materials of solid-state devices  (NC03020K) ,  Spectroanalysis  (CC03012W)

Terms in the title (3)： ナノ材料 ,  キャラクタリゼーション ,  仮想