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J-GLOBAL ID：201702244556423132   Reference number：17A0638883

Importance of bulk states for the electronic structure of semiconductor surfaces: implications for finite slabs

半導体表面の電子構造においてバルク状態の重要性:有限スラブの場合

Author (6)： SAGISAKA Keisuke (National Inst. for Materials Sci., Ibaraki, JPN) ,  SAGISAKA Keisuke (London Centre for Nanotechnology, London, GBR) ,  NARA Jun (National Inst. for Materials Sci., Ibaraki, JPN) ,  BOWLER David (London Centre for Nanotechnology, London, GBR) ,  BOWLER David (National Inst. for Materials Sci., Ibaraki, JPN) ,  BOWLER David (Univ. Coll. London, London, GBR)
Material： Journal of Physics. Condensed Matter  (J Phys Condens Matter)
Volume： 29  Issue： 14  Page： 145502,1-8  Publication year： Apr. 12, 2017 
JST Material Number： B0914B  ISSN： 0953-8984  CODEN： JCOMEL  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *slab ,  *dependence ,  substrate(plate) ,  *silicon ,  *density functional method ,  *band structure ,  surface structure ,  *dimer ,  state density ,  semiconductor
Semi thesaurus term： *thickness dependency

JST classification (1)： Electronic structure of surfaces  (BM02080J)

Terms in the title (5)： 半導体表面 ,  電子構造 ,  バルク ,  重要性 ,  スラブ