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J-GLOBAL ID：201702247285445307   Reference number：17A1364295

単層の遷移金属ダイカルコゲナイド(層状化合物半導体)の顕微鏡下における非線形光学分光測定

Author (5)： KIKUCHI YUHEI (横浜国大) ,  MIYAUCHI YOSHIHIRO (防衛大) ,  SUZUKI TAKANORI (防衛大) ,  TANAKA MASATOSHI (横浜国大) ,  ONO SHIN'YA (横浜国大)
Material： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
Volume： 72  Issue： 2  Page： ROMBUNNO.21pPSB-11  Publication year： Sep. 25, 2017 
JST Material Number： S0671C  ISSN： 2189-079X  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *monolayer ,  *chalcogenide ,  *layered compound ,  *characteristic
Semi thesaurus term： monolayer ,  *transition metal dichalcogenide ,  *nonlinear optical property

JST classification (3)： Crystal structure of metal oxides and chalcogenides  (BK07020Y) ,  Photon interaction with atoms  (BH03060F) ,  Nonlinear optics  (BD05000T)

Terms in the title (7)： 単層 ,  遷移金属ダイカルコゲナイド ,  層状 ,  化合物半導体 ,  顕微鏡 ,  非線形光学 ,  分光測定