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J-GLOBAL ID：201702251224762850   Reference number：17A1700679

テラヘルツ波を用いた新しい非破壊検査技術 安全に誰でも目に見えない材料の劣化や欠陥を非破壊に検査できる新しい技術の紹介

Author (1)： OYAMA YUTAKA (東北大)
Material： 検査技術  (Inspection Engineering (Tokyo))
Volume： 22  Issue： 12  Page： 6-14  Publication year： Dec. 01, 2017 
JST Material Number： L3524A  ISSN： 1342-9825  CODEN： KGEIAS  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *nondestructive inspection ,  electromagnetic test ,  terahertz wave ,  *nondestructive analysis ,  visualization ,  *image processing ,  image analysis ,  spectrochemical analysis ,  *anomaly diagnosis ,  Diagnostic Imaging ,  internal defect

JST classification (2)： Nondestructive testing  (HB02030F) ,  Graphic and image processing in general  (JE04010I)

Terms in the title (4)： テラヘルツ波 ,  非破壊検査 ,  欠陥 ,  検査