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J-GLOBAL ID：201702255536773576   Reference number：17A0934568

光デバイス品質評価のための超解像・高速ラマン散乱イメージング法の開発

Author (1)： MINAMIKAWA TAKEO (徳島大 大学院理工学研究部)
Material： 村田学術振興財団年報  (Annual Report of the Murata Science Foundation)
Issue： 31  Page： 319-326  Publication year： Jun. 2017 
JST Material Number： L5491A  ISSN： 0919-3383  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： evaluation ,  superresolution ,  *image processing ,  Raman scattering ,  *optical microscopy ,  Raman spectrum ,  *Raman spectroscopy ,  point spread function ,  quality assessment ,  *Raman microscopy
Semi thesaurus term： *Raman imaging

JST classification (1)： Infrared spectroscopy and spectrometers  (BD07042H)

Terms in the title (6)： 光デバイス ,  品質評価 ,  超解像 ,  ラマン散乱 ,  イメージング ,  開発