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J-GLOBAL ID：201702260779528901   Reference number：17A1815853

Surface modifications in Silica-Based Films by Undurator Radiation with a multilayer spectrometer

多層スペクトロメータを用いたアンジュレータ放射線によるシリカ系薄膜の表面改質

Author (3)： MORIWAKI K. (Kobe Univ.) ,  MIYAMOTO T. (Kobe Univ.) ,  KANDA K. (Univ. Hyogo)
Material： LASTI Annual Report  (LASTI Annu Rep)
Volume： 18  Page： 43-45  Publication year： Sep. 2017 
JST Material Number： L4711A  ISSN： 2189-6909  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： undulator ,  *synchrotron radiation ,  *silicon dioxide ,  *surface modification ,  spectrometer ,  X-ray irradiation ,  thin film ,  refractive index ,  temperature dependence ,  *undulator radiation

JST classification (1)： Irradiational changes of other materials  (BK16124V)

Reference (2)：

• K.Moriwaki et al., LASTI Annual Report vol.16 (2014).
• K.Moriwaki et al., LASTI Annual Report vol.17 (2015).

Terms in the title (6)： 多層 ,  スペクトロメータ ,  アンジュレータ放射 ,  シリカ ,  薄膜 ,  表面改質