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J-GLOBAL ID：201702263204442560   Reference number：17A0389681

Asymptotic analysis for cumulative local size for one-dimensional submonolayer growth

一次元薄膜初期成長における局所累積サイズの漸近解析

Author (1)： NAKAI HISASHI (電通大)
Material： 電気通信大学紀要(Web)  (Bulletin of the University of Electro-Communications (Web))
Volume： 29  Issue： 1  Page： ROMBUNNO.290105 (WEB ONLY)  Publication year： Feb. 01, 2017 
JST Material Number： U0159A  ISSN： 0915-0935  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *thin film growth ,  one dimension ,  asymptotic series ,  locality ,  probability distribution ,  size effect ,  *metallic thin film ,  microcrystal ,  nucleation ,  coverage factor ,  island structure ,  dimensional analysis ,  *epitaxy ,  local structure ,  early stage growth ,  cumulative distribution
Semi thesaurus term： asymptotic analysis

JST classification (1)： Metallic thin films  (BK14030T)

Terms in the title (5)： 薄膜 ,  初期成長 ,  累積 ,  サイズ ,  漸近解析