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J-GLOBAL ID：201702277109524254   Reference number：17A1230988

Molecular-Scale Electronics: From Concept to Function

分子スケールのエレクトロニックス 概念から機能へ

Author (6)： XIANG Dong (Peking Univ., Beijing, CHN) ,  XIANG Dong (Nankai Univ., Tianjin, CHN) ,  WANG Xiaolong (Peking Univ., Beijing, CHN) ,  JIA Chuancheng (Peking Univ., Beijing, CHN) ,  LEE Takhee (Seoul National Univ., Seoul, KOR) ,  GUO Xuefeng (Peking Univ., Beijing, CHN)
Material： Chemical Reviews  (Chem Rev)
Volume： 116  Issue： 7  Page： 4318-4440  Publication year： Apr. 13, 2016 
JST Material Number： B0256A  ISSN： 0009-2665  CODEN： CHREAY  Document type： Article
Article type： 文献レビュー  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *electronics ,  nonmetallic material ,  metallic material ,  bonding and joining ,  *functional device ,  practical application ,  incompatibility(biology) ,  mobility(ratio) ,  accessibility ,  single-walled carbon nanotube ,  carbon material ,  graphene ,  *electrode material ,  electron beam ,  vacuum deposition ,  monomolecular layer ,  impact strength ,  conducting polymer ,  liquid metal ,  scanning tunneling microscope ,  photoelectron spectroscopy ,  X-ray spectrum ,  tunneling spectroscopy ,  infrared absorption spectrum ,  Raman spectrum ,  in-situ test ,  yield ,  stability ,  energy consumption ,  atomic force microscope ,  electrodeposition ,  lithography ,  electroluminescence ,  carbon nanotube ,  electron-phonon interaction ,  current-voltage characteristic ,  microscopy
Semi thesaurus term： energy expenditure ,  electronics ,  sensing ,  device characteristic ,  donor-acceptor system ,  noise spectrum ,  functional device ,  integration ,  accessibility ,  thermal evaporation ,  inelastic electron tunneling spectroscopy ,  molecular junction ,  Microscopy, Scanning Tunneling

JST classification (2)： Other electric and electronic parts  (NA05090R) ,  Materials of solid-state devices  (NC03020K)

Terms in the title (4)： 分子 ,  スケール ,  エレクトロニックス ,  概念