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J-GLOBAL ID：201702288166238561   Reference number：17A0003118

A Note on Reliablity-Aware Clock Skew Scheduling in High-Level Synthesis

高位合成における信頼性を考慮したクロックスキュー調整に関する一検討

Author (1)： INOUE KEISUKE (金沢工高専)
Material： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
Volume： 116  Issue： 316(MSS2016 38-56)  Page： 79-82  Publication year： Nov. 17, 2016 
JST Material Number： S0532B  ISSN： 0913-5685  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *system design ,  reliability(property) ,  *signal distortion ,  *adjustment ,  radiation resistance(radiation effect) ,  ASIC ,  radioactive ray ,  alpha beam ,  neutron beam ,  register ,  symbolic logic ,  malfunction ,  soft error ,  modeling ,  arithmetic unit ,  mixed integer programming
Semi thesaurus term： *clock skew ,  *high level synthesis ,  high level design

JST classification (3)： Semiconductor integrated circuit  (NC03162T) ,  Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G) ,  Other electronic circuits  (NC05090X)

Terms in the title (2)： 高位合成 ,  クロックスキュー