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J-GLOBAL ID：201702295866315546   Reference number：17A0020760

Critical-Area-Aware Test Pattern Generation and Reordering

臨界面積を意識したテストパターン生成と再秩序化【Powered by NICT】

Author (3)： Inuyama Shingo ,  Arai Masayuki ,  Iwasaki Kazuhiko
Material： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conf Proc)
Volume： 2016  Issue： ATS  Page： 191-196  Publication year： 2016 
JST Material Number： W2441A  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Abstract/Point： Advances in semiconductor devi...

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Thesaurus term： defect level ,  high speed ,  machining time ,  *test pattern ,  fault detection ,  speedup ,  criticality ,  breaking of wire ,  Time ,  machining condition ,  condition
Semi thesaurus term： ウィンドウサイズ ,  検出率 ,  高集積化 ,  *テストパターン生成 , 【Automatic Indexing@JST】

JST classification (3)： Pattern recognition  (JE07000S) ,  Graphic and image processing in general  (JE04010I) ,  Code theory  (ND02030R)

Terms in the title (5)： 臨界 ,  面積 ,  意識 ,  テストパターン生成 ,  秩序化