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J-GLOBAL ID：201703000824426030

位相計測装置およびこの位相計測装置を適用した機器

Inventor： 穀山 渉
Applicant, Patent owner： 国立研究開発法人産業技術総合研究所
Agent (2)： 稲葉 良幸 ,  大貫 敏史
Gazette classification：再公表公報
Application number (International application number)：JP2015081984
Publication number (International publication number)：WO2016076419
Application date： Nov. 13, 2015
Publication date： May. 19, 2016
Summary：

本発明の位相計測装置は、第1の周期的入力信号Xを所定のサンプリングタイミング毎にデジタル化し、デジタル信号Xdとして出力する第1のAD変換器2、Xdの符号を検出する第1のゼロクロス特定手段、第1のゼロクロス特定手段によるゼロクロス検出回数の差を計数し、サンプリングタイミング毎に算出する計数処理部4、第1のゼロクロス特定手段がゼロクロスを判定した直前、直後のサンプリングタイミングにおけるXdに基づいてゼロクロス検出回数の端数を演算する端数処理部5を備えている。平均化処理部6は、計数処理部4、端数処理部5の出力を積算しつつ合算することで平均化を行い位相を演算する。これにより、幅広い周波数範囲の周期的信号を入力可能とし、精度よく、かつリアルタイムに計測が可能なデジタル位相計測装置やデジタル位相差計測装置を実現する。

Claim (excerpt)：

周期的に変動する周期的入力信号の位相あるいは周期的入力信号間の位相差をデジタル回路によって計測する位相計測装置であって、 前記周期的入力信号を、所定のサンプリングタイミング毎にそれぞれデジタル化し、デジタル信号として出力するAD変換器と、 前記デジタル信号の符号が変化したことを検出するゼロクロス特定手段と、 前記ゼロクロス特定手段によるゼロクロス検出回数を計数し、前記サンプリングタイミング毎に算出する計数処理部と、 前記ゼロクロス特定手段がゼロクロスを判定した直前、直後のサンプリングタイミングにおけるデジタル信号に基づいて、前記ゼロクロス検出回数の端数Fxを演算する端数処理部と、 前記計数処理部が算出するN個の出力値の合算値、および、この間において前記端数処理部が演算する端数Fxの合算値に基づいて平均化を行い、デジタル信号の位相を演算する平均化処理部を備えたことを特徴とする位相計測装置。

IPC (3)：

H03K 5/26 ,  H03L 7/107 ,  H03L 7/14

FI (3)：

H03K5/26 C ,  H03L7/107 170 ,  H03L7/14 180

F-Term (15)：

5J039JJ07 ,  5J039KK01 ,  5J039KK09 ,  5J039KK10 ,  5J039KK13 ,  5J039KK25 ,  5J039KK28 ,  5J039KK33 ,  5J106AA05 ,  5J106BB05 ,  5J106DD19 ,  5J106DD36 ,  5J106GG13 ,  5J106KK12 ,  5J106RR01