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J-GLOBAL ID：201703002003817556

蛍光測定装置及び蛍光測定方法

Inventor： 目賀 章正 ,  田中 佑治 ,  安田 正幸 ,  永富 良一 ,  中澤 徹
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所 ,  国立大学法人東北大学
Agent (2)： 吉本 力 ,  新宅 将人
Gazette classification：再公表公報
Application number (International application number)：JP2014061995
Publication number (International publication number)：WO2014181744
Application date： Apr. 30, 2014
Publication date： Nov. 13, 2014
Summary：

安全性を向上することができ、かつ、安定した測定値を得ることができる蛍光測定装置及び蛍光測定方法を提供する。被検者の眼球1の強膜11に向けて光源21から励起光を照射する。励起光が照射された強膜11からの蛍光を光検出器34で受光する。光検出器34における受光強度に基づいて演算部4で演算を行う。眼球1の強膜11に向けて励起光を照射することにより、励起光が眼球1内部に入るのを防止することができるため、安全性を向上することができる。また、励起光や蛍光の通過を妨げる障害が極めて少ない眼球1の強膜11に向けて励起光を照射し、強膜11からの蛍光を受光して演算を行うことにより、安定した測定値を得ることができる。

Claim (excerpt)：

被検者の眼球の強膜に向けて励起光を照射する励起光照射部と、 励起光が照射された強膜からの蛍光を受光する蛍光受光部と、 前記蛍光受光部における受光強度に基づいて演算を行う演算部とを備えたことを特徴とする蛍光測定装置。

IPC (2)：

A61B 3/10 ,  A61B 10/00

FI (2)：

A61B3/10 Z ,  A61B10/00 E