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J-GLOBAL ID：201703003547919561

変位測定装置、変位測定方法およびそのプログラム

Inventor： 李 志遠 ,  津田 浩 ,  山田 金喜 ,  成田 朋憲 ,  小林 勝 ,  早坂 洋平
Applicant, Patent owner： 国立研究開発法人産業技術総合研究所 ,  東日本高速道路株式会社 ,  株式会社ネクスコ・エンジニアリング東北
Agent (4)： 志賀 正武 ,  森 隆一郎 ,  飯田 雅人 ,  大浪 一徳
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2016024187
Publication number (International publication number)：2017142185
Application date： Feb. 10, 2016
Publication date： Aug. 17, 2017
Summary：

【課題】撮像部の設置条件によらず被写体の変位の測定精度を維持する。【解決手段】一定のピッチを有する模様が空間的に繰り返される2つ以上の繰り返し模様の画像を取得し、位相演算部は、繰り返し模様について、所定の間引き間隔で間引きして生成される間引き画像を補間して得られるモアレ画像の位相を算出する。変位量演算部は、一時点における位相から他の時点における位相との差に基づいて繰り返し模様の変位量を算出する。補正演算処理部は一つの繰り返し模様の変位量から、他の繰り返し模様のピッチの一つの繰り返し模様のピッチに対するピッチ比を乗じた他の繰り返し模様の変位量を補正量として差し引く。【選択図】図5

Claim (excerpt)：

一定のピッチを有する模様が空間的に繰り返される2つ以上の繰り返し模様の画像を取得し、 前記繰り返し模様について、所定の間引き間隔で間引きして生成される間引き画像を補間して得られるモアレ画像の位相を算出する位相演算部と、 一時点における前記位相から他の時点における前記位相との差に基づいて前記繰り返し模様の変位量を算出する変位量演算部と、 一つの繰り返し模様の変位量から、他の繰り返し模様のピッチの前記一つの繰り返し模様のピッチに対するピッチ比を乗じた前記他の繰り返し模様の変位量を補正量として差し引く補正演算処理部と、 を備える変位測定装置。

IPC (3)：

G01B 11/16 ,  G01B 11/00 ,  G06T 7/60

FI (3)：

G01B11/16 H ,  G01B11/00 H ,  G06T7/60 150B

F-Term (29)：

2F065AA20 ,  2F065AA65 ,  2F065BB28 ,  2F065CC14 ,  2F065DD03 ,  2F065DD04 ,  2F065EE00 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065FF06 ,  2F065FF61 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ21 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ33 ,  2F065QQ34 ,  2F065QQ39 ,  2F065QQ42 ,  2F065RR07 ,  5L096BA03 ,  5L096CA04 ,  5L096DA01 ,  5L096FA23 ,  5L096FA34 ,  5L096FA69 ,  5L096HA03 ,  5L096JA18