Pat

J-GLOBAL ID：201703006013822243

赤外光スペクトル計測装置及び方法

Inventor： 藤 貴夫 ,  野村 雄高
Applicant, Patent owner： 大学共同利用機関法人自然科学研究機構
Agent (1)： 大川 宏
Gazette classification：再公表公報
Application number (International application number)：JP2014000368
Publication number (International publication number)：WO2014125775
Application date： Jan. 24, 2014
Publication date： Aug. 21, 2014
Summary：

本発明の赤外光スペクトル計測装置1は、被測定赤外光パルスLIRと参照光パルスLrとが混合入射されて被測定赤外光パルスLIRを非線形光学効果で可視光パルスLvにアップコンバージョンする気体媒質13と、気体媒質13でアップコンバージョンされた可視光パルスLvを分光して可視光パルススペクトルデータを取得する分光装置14と、を有し、広帯域の赤外光スペクトルを計測できることを特徴とする。

Claim (excerpt)：

被測定赤外光パルスと参照光パルスとが混合入射されて該被測定赤外光パルスを非線形光学効果で可視光パルスにアップコンバージョンする気体媒質と、 前記気体媒質でアップコンバージョンされた前記可視光パルスを分光して可視光パルススペクトルデータを取得する分光装置と、 を有し、広帯域の赤外光スペクトルを計測することを特徴とする赤外光スペクトル計測装置。

IPC (1)：

G01J 3/42

FI (1)：

G01J3/42 U

F-Term (18)：

2G020AA03 ,  2G020AA04 ,  2G020BA04 ,  2G020BA05 ,  2G020CA02 ,  2G020CB04 ,  2G020CB23 ,  2G020CB42 ,  2G020CB43 ,  2G020CC02 ,  2G020CC26 ,  2G020CC27 ,  2G020CC63 ,  2G020CD03 ,  2G020CD13 ,  2G020CD24 ,  2G020CD34 ,  2G020CD35