Pat
J-GLOBAL ID：201703007492616535
運動解析装置および運動解析方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
特許業務法人深見特許事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2015159478
Publication number (International publication number)：2017037553
Application date： Aug. 12, 2015
Publication date： Feb. 16, 2017
Summary：
【課題】計算コストを従来よりも低減しつつ、他の物体との接触による筋の変形を解析することが可能な運動解析装置を提供する。【解決手段】運動解析装置100は、複数の質点で表わされる筋のモデルを格納する記憶部を備える。各質点は、3次元上の座標値と質量とに関連付けられており、かつ、隣接する質点との距離に依存する力学的関係よって当該隣接する質点と結合している。運動解析装置100の演算部150は、各質点について、当該質点と隣接する質点との間の距離に応じて、当該質点が当該隣接する質点から受ける受動的な力を計算し、外力を受けた質点については、当該質点に関連付けられている質量と、受動的な力と、外力とに依存する運動方程式によって当該質点の座標値を順次計算し、外力を受けていない質点については、当該質点に関連付けられている質量と、受動的な力とに依存する運動方程式によって当該質点の座標値を順次計算する。【選択図】図3
Claim (excerpt)：
人または動物の筋をモデル化して当該筋の運動を解析するための運動解析装置であって、
複数の質点で表わされる筋のモデルを格納するための記憶部を備え、
前記複数の質点の各々は、3次元上の座標値と質量とに関連付けられており、かつ、隣接する質点との距離に依存する力学的関係よって当該隣接する質点と結合しており、
前記複数の質点のうちの前記筋の表面を構成する質点が外力を受けたことに基づいて、前記複数の質点の各々についての座標値を計算するための演算部を備え、
前記演算部は、
前記複数の質点の各々について、当該質点と隣接する質点との間の距離に応じて、当該質点が当該隣接する質点から受ける力を計算し、
前記外力を受けた質点については、当該質点に関連付けられている質量と、当該質点について計算された前記力と、前記外力とに依存する運動方程式によって当該質点の座標値を順次計算し、
前記外力を受けていない質点については、当該質点に関連付けられている質量と、当該質点について計算された前記力とに依存する運動方程式によって当該質点の座標値を順次計算する、運動解析装置。
IPC (1)：
FI (1)：
F-Term (1)：
Patent cited by the Patent：
Article cited by the Patent：
Return to Previous Page
