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J-GLOBAL ID：201703009030236020

周波数シフトテラヘルツ波発生装置及び発生方法、周波数シフトテラヘルツ波計測装置及び計測方法、断層状態検出装置及び検出方法、サンプル特性計測装置、計測方法

Inventor： 水津 光司 ,  南部 広樹 ,  碇 智文
Applicant, Patent owner： 有限会社スペクトルデザイン ,  学校法人千葉工業大学
Agent (1)： 新保 斉
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2017094814
Publication number (International publication number)：2017208541
Application date： May. 11, 2017
Publication date： Nov. 24, 2017
Summary：

【課題】周波数シフトテラヘルツ波を発生する技術を新たに創出すると共に、テラヘルツ帯の計測技術、特に構造物の断層状態を検出する技術を提供すること。【解決手段】 本発明の周波数シフトテラヘルツ波計測方法は、周波数がシフトする周波数シフトレーザー光と、周波数シフトレーザー光の中心周波数との差がテラヘルツ波の周波数である中心周波数の単色レーザー光とを用い、周波数シフトレーザー光と、該単色レーザー光とを合波してテラヘルツ周期のビートを有する光ビート信号を出力する光ビート信号出力工程、光電変換により光ビート信号からテラヘルツ波の周波数で振動する電流を生じさせ、これを空間に放射する周波数シフトテラヘルツ波発生工程、光ビート信号をプローブ光とし、テラヘルツ波発生工程で放射されたテラヘルツ波の反射・透過波を検出してRF周波数成分をもつ電流を生じさせる光検出工程、RF周波数成分を解析する解析工程を有する。【選択図】図3

Claim (excerpt)：

周波数が0.1THzないし10THzのテラヘルツ波を用いた周波数シフトテラヘルツ波発生装置であって、 周波数がシフトする周波数シフトレーザー光を出力する周波数シフトレーザー光源と、 単色レーザー光を出力する単色レーザー光源であって、該単色レーザー光の中心周波数は該周波数シフトレーザー光の中心周波数との差がテラヘルツ波の周波数である単色レーザー光源と、 該周波数シフトレーザー光と、該単色レーザー光とを合波してテラヘルツ周期のビートを有する光ビート信号を出力する合波手段と、 光電変換により該光ビート信号からテラヘルツ波の周波数で振動する電流を生じさせ、これを空間に放射する周波数シフトテラヘルツ波発生手段と を備える周波数シフトテラヘルツ波発生装置。

IPC (4)：

H01S 1/02 ,  G01N 21/01 ,  G01N 21/358 ,  H01S 3/00

FI (4)：

H01S1/02 ,  G01N21/01 D ,  G01N21/3581 ,  H01S3/00 A

F-Term (35)：

2G059AA02 ,  2G059AA03 ,  2G059AA05 ,  2G059EE02 ,  2G059EE11 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG03 ,  2G059HH01 ,  2G059HH05 ,  2G059HH06 ,  2G059HH08 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ18 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059LL01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09 ,  2G059MM14 ,  2G059NN01 ,  2G059NN05 ,  2G059NN08 ,  5F172AE09 ,  5F172AF02 ,  5F172DD03 ,  5F172DD06 ,  5F172EE13 ,  5F172NN05 ,  5F172NN25 ,  5F172NQ25 ,  5F172NQ45 ,  5F172ZZ13