画像取得装置および画像取得方法

Inventor： ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (4)：長谷川芳樹 , 黒木義樹 , 柴山健一 , 柴田昌聰
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2016074204
Publication number (International publication number)：2017187532
Application date： Apr. 01, 2016
Publication date： Oct. 12, 2017
Summary：

【課題】多点走査により生成される観察対象物の画像のSN比を容易に改善することができる画像取得装置を提供する。【解決手段】画像取得装置1は、空間光変調器11、光スキャナ14、検出部32および制御部70等を備える。空間光変調器11は、変調後の励起光を観察対象物Sの表面または内部における複数の照射領域に集光照射する。検出部32は、受光面上において、観察対象物における複数の照射領域に対して結像光学系による結像関係にある複数の結像領域を有し、複数の結像領域それぞれが1または2以上の画素に対応し、複数の結像領域の何れにも対応しない画素が各結像領域の隣に存在する。制御部70は、各結像領域に対応する画素の検出信号を、該結像領域の隣にあって複数の結像領域の何れにも対応しない画素の検出信号に基づいて補正し、その補正後の検出信号に基づいて観察対象物の画像を作成する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

光を出力する光源と、前記光源から出力される光を観察対象物の表面または内部における複数の照射領域に集光照射する照射光学系と、前記照射光学系による前記観察対象物への光照射の方向の光軸に交差する方向に前記複数の照射領域を走査する走査部と、前記照射光学系による前記観察対象物への光照射に伴って前記複数の照射領域それぞれで発生する光を導いて結像する結像光学系と、前記複数の照射領域が前記結像光学系により結像される受光面を有し、その受光面上に1次元状または2次元状に複数の画素が配列されており、前記複数の画素それぞれにおける受光量に応じた値の検出信号を出力する検出部と、前記検出部から出力される検出信号に基づいて前記観察対象物の画像を作成する画像作成部と、を備え、前記検出部は、前記受光面上において、前記観察対象物における前記複数の照射領域に対して前記結像光学系による結像関係にある複数の結像領域を有し、前記複数の結像領域それぞれが1または2以上の画素に対応し、前記複数の結像領域の何れにも対応しない画素が各結像領域の隣に存在し、前記画像作成部は、前記複数の結像領域それぞれに対応する画素の検出信号を、各結像領域の隣にあって前記複数の結像領域の何れにも対応しない1または2以上の画素の検出信号に基づいて補正し、その補正後の検出信号に基づいて前記観察対象物の画像を作成する、画像取得装置。

IPC (2)：

G02B 21/06 , G01N 21/64

FI (2)：

G02B21/06 , G01N21/64 F

F-Term (30)：

2G043AA03 , 2G043CA05 , 2G043DA05 , 2G043DA06 , 2G043EA01 , 2G043FA01 , 2G043FA02 , 2G043HA01 , 2G043HA02 , 2G043HA09 , 2G043JA03 , 2G043KA01 , 2G043KA08 , 2G043KA09 , 2G043LA02 , 2G043LA03 , 2G043NA13 , 2H052AA07 , 2H052AA09 , 2H052AB05 , 2H052AB14 , 2H052AB24 , 2H052AC04 , 2H052AC15 , 2H052AC27 , 2H052AC34 , 2H052AD03 , 2H052AD19 , 2H052AF02 , 2H052AF21

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

撮像装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2007-305554 Applicant：日本ビクター株式会社
空間光変調器を用いた光の変調方法、及び、空間光変調器を備えた装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2013-127047 Applicant：オリンパス株式会社
レーザ加工装置及びレーザ加工方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2006-231298 Applicant：国立大学法人徳島大学

Article cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

Reassignment of Scattered EmissionPhotons in Multifocal MultiphotonMicroscopy
Multifocal multiphoton microscopy based onmultianode photomultiplier tubes

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