Pat
J-GLOBAL ID:201703009303804248

電波測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 中川 邦雄
Gazette classification:再公表公報
Application number (International application number):JP2014064208
Publication number (International publication number):WO2014196439
Application date: May. 29, 2014
Publication date: Dec. 11, 2014
Summary:
【課題】本発明は、極低温下、電波の高感度測定を可能にする電波測定装置を提供する。【解決手段】真空容器の中に、目的とする電波を透過させる放射遮フィルタ、電波に含まれる目的としない電磁波を反射させる電波透過性材料、及び電波検出器を置き、電波が前記放射遮フィルタを透過し、前記電波に含まれる目的としない電磁波は前記電波透過性材料により前記放射遮フィルタに向けて反射させられ、前記放射遮フィルタに熱として集熱されるとともに、熱伝導により系外に排熱され、前記電波透過性材料を透過した電波が、前記電波検出器により高感度測定される電波測定装置とした。【選択図】図1
Claim (excerpt):
電波を入れる窓と前記窓の下方に載置される放射遮フィルタと前記放射遮フィルタの下方に載置される電波透過性材料とを備える冷却することができる真空容器(第一放射シールド)と、前記第一放射シールドの中にあって前記電波透過性材料の下方に置かれた電波検出器と、を備える電波測定装置であって、 前記窓を通して入射された電波に含まれる目的とする電波が前記放射遮フィルタにより透過させられ、続いて、該透過電波に含まれる目的としない電磁波が前記電波透過性材料により前記放射遮フィルタに向けて反射させられ、前記放射遮フィルタに熱として集熱され、該放射遮フィルタの熱伝導により系外に排熱され、 そのことにより、前記電波透過性材料を透過した電波が前記電波検出器により高感度測定されることを特徴とする電波測定装置。
IPC (6):
G01R 29/08 ,  G01R 29/10 ,  G01S 13/00 ,  H01Q 1/42 ,  H01P 1/08 ,  H01Q 15/14
FI (7):
G01R29/08 B ,  G01R29/10 E ,  G01R29/08 Z ,  G01S13/00 ,  H01Q1/42 ,  H01P1/08 ,  H01Q15/14 B
F-Term (8):
5J011FA01 ,  5J020AA06 ,  5J020BA05 ,  5J020BD03 ,  5J046RA03 ,  5J046RA07 ,  5J046RA18 ,  5J070AK22

Return to Previous Page