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J-GLOBAL ID：201703009533265257

速度測定装置および速度測定方法

Inventor： 北川 米喜 ,  森 芳孝 ,  石井 勝弘 ,  花山 良平 ,  西村 靖彦 ,  砂原 淳 ,  三浦 永祐 ,  栗田 隆史 ,  関根 尊史 ,  川嶋 利幸 ,  佐藤 仲弘 ,  菅 博文
Applicant, Patent owner： 学校法人光産業創成大学院大学 ,  トヨタ自動車株式会社 ,  浜松ホトニクス株式会社
Agent (4)： 長谷川 芳樹 ,  黒木 義樹 ,  柴山 健一 ,  柴田 昌聰
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2015178262
Publication number (International publication number)：2017053743
Application date： Sep. 10, 2015
Publication date： Mar. 16, 2017
Summary：

【課題】衝撃波の速度測定の分解能が高く安価に構成することができる速度測定装置を提供する。【解決手段】速度測定装置1は、干渉光学系10、分光器20および衝撃波発生用光源30を備える。衝撃波発生用光源30から出力された衝撃波発生用レーザ光が試料90の第1主面91に照射されると衝撃波が発生する。衝撃波発生用光源30の伸長部31と増幅部32との間に設けられたビームスプリッタ34により分岐されて出力されたチャープパルス光は、干渉光学系10に入力される。チャープパルス光が干渉光学系10において2分岐されてミラー12および試料90で反射された後に合波された合波光は、分光器20により分光されてスペクトル(周波数干渉縞)が取得される。この周波数干渉縞に基づいて衝撃波の伝搬速度が求められる。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

試料中における衝撃波の伝搬速度を測定する装置であって、 瞬時周波数が時間的に変化するチャープパルス光を2分岐して第1分岐光および第2分岐光とし、ミラーで反射された前記第1分岐光と前記衝撃波で反射された前記第2分岐光とを合波して当該合波光を出力する干渉光学系と、 前記合波光を分光して前記合波光の周波数干渉縞を求める分光器と、 を備え、 前記周波数干渉縞に基づいて前記衝撃波の伝搬速度を求める、 速度測定装置。

IPC (1)：

G01N 21/45

FI (1)：

G01N21/45 A

F-Term (12)：

2G059AA03 ,  2G059BB08 ,  2G059EE09 ,  2G059EE12 ,  2G059FF05 ,  2G059GG01 ,  2G059GG08 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ25

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 日本物理学会講演概要集, 20150916, 70.2巻, 630