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J-GLOBAL ID：201703009845020065

光学測定装置及び光学測定方法

Inventor： 奥野 拓也 ,  翁 由奈 ,  祖川 伊知郎 ,  菅沼 寛 ,  千原 英夫 ,  石井 暁
Applicant, Patent owner： 住友電気工業株式会社 ,  国立大学法人京都大学
Agent (4)： 長谷川 芳樹 ,  黒木 義樹 ,  ▲高▼木 邦夫 ,  寺澤 正太郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2016189830
Publication number (International publication number)：2017064405
Application date： Sep. 28, 2016
Publication date： Apr. 06, 2017
Summary：

【課題】被検体内の組織をより簡便に識別する。【解決手段】光学測定装置1は、近赤外光を出射する光源10と、光源10からの近赤外光の被検体5への照射によって被検体5から出射される被検体5からの透過光又は反射光の強度分布を示す画像を2次元配置された画素によって取得することで画像データを取得するカメラ部30と、画像データに基づいて、被検体5の各位置における組織を識別する分析部40と、分析部40により識別された組織の位置を示す情報を分析結果として出力する出力部50と、を備える。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

近赤外光を出射する近赤外光源と、 前記近赤外光の被検体への照射によって前記被検体から出射される当該被検体からの透過光又は反射光の強度分布を示す画像を2次元配置された画素によって取得することで画像データを取得する撮像手段と、 前記画像データに基づいて、前記被検体の各位置における組織を識別する分析手段と、 前記分析手段により識別された組織の位置を示す情報を分析結果として出力する出力手段と、 を備える光学測定装置。

IPC (3)：

A61B 10/00 ,  G01N 21/27 ,  G01N 21/359

FI (3)：

A61B10/00 E ,  G01N21/27 A ,  G01N21/359

F-Term (15)：

2G059AA05 ,  2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE11 ,  2G059FF01 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ06 ,  2G059JJ11 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01