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J-GLOBAL ID:201703010746741441

欠損値推定装置及び欠損値推定方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 岡田 賢治 ,  今下 勝博
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2013236889
Publication number (International publication number):2015097019
Patent number:6178218
Application date: Nov. 15, 2013
Publication date: May. 21, 2015
Claim (excerpt):
【請求項1】 複数の変数を含むセンサデータのレコード群と当該レコード群における欠損値のうちの推定したい目的変数を受け付ける要求受付部と、 目的変数を有するレコードの変数のうち、欠損しておらず値を有する変数を第1の説明変数に設定し、前記レコード群のなかから前記第1の説明変数の揃ったレコードを解析対象レコード群として集約する集約部と、 前記集約部において集約された解析対象レコード群のレコードそれぞれについて、当該レコードと同一のオブジェクトから生成されたレコード群の前記第1の説明変数の統計値を算出して、当該レコードにおける前記第1の説明変数とは異なる第2の説明変数として追加する区間統計部と、 前記第2の説明変数が追加された解析対象レコード群について、前記第1及び第2の説明変数を用いた変数選択型の重回帰分析を行うことによって変数の係数の値を計算して当該値の絶対値が小さい変数を説明変数から除く変数選択型回帰分析部と、 重回帰分析の結果をもとに、目的変数を含むレコードの各説明変数の値及び係数から目的変数の値を計算する推定部と、 を備えることを特徴とする欠損値推定装置。
IPC (2):
G06F 17/17 ( 200 6.01) ,  G06F 17/18 ( 200 6.01)
FI (2):
G06F 17/17 ,  G06F 17/18 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)
Article cited by the Patent:
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)

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