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J-GLOBAL ID：201703011352760595

情報処理装置およびその制御方法

Inventor： 中里 祐介 ,  小竹 大輔 ,  片山 昭宏
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (6)： 大塚 康徳 ,  大塚 康弘 ,  高柳 司郎 ,  木村 秀二 ,  下山 治 ,  永川 行光
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2016008282
Publication number (International publication number)：2017129992
Application date： Jan. 19, 2016
Publication date： Jul. 27, 2017
Summary：

【課題】計測視点の位置姿勢を精度よく算出するための特徴パターンとその設置位置を提示することで、特徴パターンを設置する作業を容易にする。【解決手段】情報処理装置は、環境に存在する、計測視点の位置姿勢を測定するのに用い得る特徴の分布を算出することにより特徴分布を取得し、環境において、計測視点の位置姿勢の計算精度を向上させる特徴分布が得られるように、設置すべき特徴パターンとその設置位置を決定し、決定された特徴パターンとその設置位置を提示する。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

環境に存在する、計測視点の位置姿勢を測定するのに用い得る特徴の分布を算出することにより特徴分布を得る算出手段と、 前記環境において、前記計測視点の位置姿勢の計算精度を向上させる特徴分布が得られるように、設置すべき特徴パターンとその設置位置を決定する決定手段と、 前記決定手段により決定された特徴パターンとその設置位置を提示する提示手段と、を備えることを特徴とする情報処理装置。

IPC (3)：

G06T 19/00 ,  G01B 11/00 ,  G01B 11/26

FI (3)：

G06T19/00 600 ,  G01B11/00 H ,  G01B11/26 H

F-Term (20)：

2F065AA04 ,  2F065AA37 ,  2F065BB27 ,  2F065DD03 ,  2F065DD04 ,  2F065DD06 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ31 ,  5B050BA11 ,  5B050BA15 ,  5B050BA18 ,  5B050CA07 ,  5B050EA05 ,  5B050EA07 ,  5B050EA13 ,  5B050EA19 ,  5B050FA02 ,  5B050FA08