Pat
J-GLOBAL ID:201703013288011187

検査装置および検査方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (5): 志賀 正武 ,  佐伯 義文 ,  寺本 光生 ,  鈴木 三義 ,  鈴木 慎吾
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2016065005
Publication number (International publication number):2017183861
Application date: Mar. 29, 2016
Publication date: Oct. 05, 2017
Summary:
【課題】マイクロフォンアレイを構成する複数のマイクロフォンの相対的な位置関係を検査することができる検査装置および検査方法を提供する。【解決手段】伝達関数算出部103は、所定の目標方向に設置された音源からマイクロフォンアレイ20の各マイクロフォン21-1〜21-8までの伝達関数を算出する。判定部105は各マイクロフォンまでの伝達関数と、各マイクロフォンまでの所定の理想的伝達関数との差分量に基づいてマイクロフォンアレイ20が正常であるか否かを判定する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
所定の目標方向に設置された音源からマイクロフォンアレイの各マイクロフォンまでの伝達関数を算出する伝達関数算出部と、 前記各マイクロフォンまでの伝達関数と、前記各マイクロフォンまでの所定の理想的伝達関数との差分量に基づいて前記マイクロフォンアレイが正常であるか否かを判定する判定部と、 を備える検査装置。
IPC (2):
H04R 29/00 ,  H04R 1/40
FI (2):
H04R29/00 320 ,  H04R1/40 320
F-Term (2):
5D220AA50 ,  5D220BA06
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2) Cited by examiner (2)

Return to Previous Page