放射線検出装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (4)：青木宏義 , 天田昌行 , 岡田喜雅 , 北川雅章
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2016029218
Publication number (International publication number)：2017146244
Application date： Feb. 18, 2016
Publication date： Aug. 24, 2017
Summary：

【課題】放射線検出の高分解能化を図ることができるようにすること。【解決手段】放射線検出装置(1)は、厚み方向に積層される複数枚のシリコンストリップ検出器(11)と、シリコンストリップ検出器が検出した放射線のパルス信号を処理する信号処理部(23)及び信号処理部が実装される主基板(22)を有する実装体(12)とを備えている。シリコンストリップ検出器は、プリント基板(14)と、プリント基板に実装される半導体素子(15)と、半導体素子に配列される複数の短冊状のストリップ電極(16)とを備える。信号処理部は、シリコンストリップ検出器の検出信号に応じ、被検体での散乱放射線のパルス信号と、透過放射線のパルス信号とを弁別する弁別部(42)と、弁別部で弁別された透過放射線のパルス信号を計数する演算部(43)とを備える。実装体の枚数は、シリコンストリップ検出器の枚数より少なくなっている。【選択図】図3

Claim (excerpt)：

厚み方向に積層されて一端面を放射線の入射面として放射線を検出する複数枚の放射線検出体と、前記放射線検出体が検出した放射線のパルス信号を処理する信号処理部及び当該信号処理部が実装される主基板を有する実装体とを備え、前記放射線検出体の前記入射面側にコリメータを設けない放射線検出装置であって、前記放射線検出体は、検出体用基板と、当該検出体用基板の面内に実装される半導体素子と、当該半導体素子の一方の主面に一軸方向に並列して配列され長手方向が前記入射面に直交する複数の短冊状のストリップ電極とを備え、前記信号処理部は、前記放射線検出体の検出信号に応じ、被検体での散乱放射線のパルス信号と、透過放射線のパルス信号とを弁別する弁別部と、前記弁別部で弁別された透過放射線のパルス信号を計数する演算部とを備え、前記実装体の枚数は、前記放射線検出体の枚数より少ないことを特徴とする放射線検出装置。

IPC (1)：

G01T 1/24

FI (1)：

G01T1/24

F-Term (17)：

2G188AA25 , 2G188BB02 , 2G188BB04 , 2G188BB05 , 2G188BB06 , 2G188BB09 , 2G188CC32 , 2G188CC34 , 2G188DD05 , 2G188DD30 , 2G188DD33 , 2G188DD36 , 2G188DD38 , 2G188DD42 , 2G188EE01 , 2G188EE12 , 2G188EE29

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (7)

放射線検出ユニットおよび放射線検査装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2006-028811 Applicant：住友重機械工業株式会社
放射線検出モジュール及び放射線撮像装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2009-034147 Applicant：株式会社日立製作所
放射線検出器,放射線検出素子及び放射線撮像装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2006-058831 Applicant：株式会社日立製作所

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