周波数測定装置、及び周波数測定方法

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：特許業務法人樹之下知的財産事務所
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2013064812
Publication number (International publication number)：2014190759
Patent number：6052672
Application date： Mar. 26, 2013
Publication date： Oct. 06, 2014
Claim (excerpt)：

【請求項1】光周波数コム装置と、周波数可変で、かつ、当該周波数に応じて発振モードが高次から低次に、あるいは低次から高次に変化するモード移行周波数を有する周波数可変レーザ装置と、前記発振モードを観測する手段と、前記光周波数コム装置と前記周波数可変レーザ装置とからの出力光を干渉させた際に得られる第一ビート周波数を計測する手段と、測定対象レーザ装置と前記周波数可変レーザ装置とからの出力光を干渉させた際に得られる第二ビート周波数を計測する手段と、を備え、前記周波数可変レーザ装置の発振周波数を変化させた際の前記発振モードの観測結果に基づいて、前記第一ビート周波数を計測する際の前記光周波数コム装置からの出力光のモード次数を特定し、前記モード次数と、計測された前記第一ビート周波数及び前記第二ビート周波数とに基づいて、前記測定対象レーザ装置の発振周波数を測定することを特徴とする周波数測定装置。

IPC (2)：

G01J 9/02 ( 200 6.01) , H01S 3/00 ( 200 6.01)

FI (3)：

G01J 9/02 , H01S 3/00 F , H01S 3/00 G

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (5)

光周波数測定システム及び光周波数コムの周波数成分の決定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2006-157631 Applicant：株式会社光コム
光周波数測定システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2004-205076 Applicant：株式会社光コム研究所
光周波数の測定方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2007-289709 Applicant：財団法人工業技術研究院

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