Pat

J-GLOBAL ID：201703018051141304

樹脂成形体の分析方法

Inventor： 南條 卓也 ,  引間 悠太 ,  室賀 駿
Applicant, Patent owner： 住友電気工業株式会社 ,  国立大学法人京都大学
Agent (4)： 長谷川 芳樹 ,  黒木 義樹 ,  ▲高▼木 邦夫 ,  寺澤 正太郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2015228670
Publication number (International publication number)：2017096746
Application date： Nov. 24, 2015
Publication date： Jun. 01, 2017
Summary：

【課題】樹脂成形体の物性値に影響を与える要因に係る分析を行うことを可能とする。【解決手段】樹脂成形体における特定の物性値に影響を及ぼす複数の要因のそれぞれに対応する製造条件を変化させて作成した複数の樹脂成形体からなる試料に対して近赤外光を照射することで取得される透過光又は拡散反射光の近赤外スペクトルデータを用いて、因子分析によって複数の要因毎に因子負荷を取得する因子負荷取得工程と、樹脂成形体からなる測定対象物に対して近赤外光を照射することで透過光又は拡散反射光の近赤外スペクトルデータを取得するスペクトルデータ取得工程と、測定対象物における特定の物性値に影響を及ぼす複数の要因の寄与度として、スペクトルデータ取得工程において取得された測定対象物の近赤外スペクトルデータについて、因子負荷取得工程において取得された因子負荷に対応した因子得点を複数の要因毎に算出する寄与度算出工程と、を有する。【選択図】図3

Claim (excerpt)：

樹脂成形体における特定の物性値に影響を及ぼす複数の要因のそれぞれに対応する製造条件を変化させて作成した複数の樹脂成形体からなる試料に対して近赤外光を照射することで取得される透過光又は拡散反射光の近赤外スペクトルデータを用いて、因子分析によって複数の要因毎に因子負荷を取得する因子負荷取得工程と、 樹脂成形体からなる測定対象物に対して近赤外光を照射することで透過光又は拡散反射光の近赤外スペクトルデータを取得するスペクトルデータ取得工程と、 前記測定対象物における特定の物性値に影響を及ぼす複数の要因の寄与度として、前記スペクトルデータ取得工程において取得された前記測定対象物の近赤外スペクトルデータについて、前記因子負荷取得工程において取得された前記因子負荷に対応した因子得点を前記複数の要因毎に算出する寄与度算出工程と、 前記寄与度算出工程で算出された因子得点を出力する出力工程と、 を有する樹脂成形体の分析方法。

IPC (1)：

G01N 21/356

FI (1)：

G01N21/3563

F-Term (16)：

2G059AA01 ,  2G059AA03 ,  2G059BB08 ,  2G059CC12 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059FF01 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10