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J-GLOBAL ID:201703018632051560

診断装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 鈴木 壯兵衞
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2015163830
Publication number (International publication number):2017038860
Application date: Aug. 21, 2015
Publication date: Feb. 23, 2017
Summary:
【課題】計算コストを増大させずに多様な観測データを得ることができ、被測定対象部位の電気定数の分布を精度よく、逆問題として再現可能な診断装置を提供する。【解決手段】複数のアンテナユニットA1〜A36の配列からなり、複数のアンテナユニットA1〜A36のそれぞれの放射素子中を流れる電流の励振方向が互いに異なるアンテナアレイと、複数のアンテナユニットA1〜A36のそれぞれを逐次選択して、選択されたアンテナユニットを介してマイクロ波を送信して被測定対象部位6に照射する送信手段11と、マイクロ波を複数のアンテナユニットA1〜A36でそれぞれ受信する受信手段12と、受信手段12が受信した複数のアンテナユニットA1〜A36からの電気信号により逆問題を解析し、再構成された電気定数の分布を画像表示する画像処理ユニット13とを備え、トモグラフィ処理を実行する。【選択図】図8
Claim (excerpt):
複数のアンテナユニットの配列からなり、前記複数のアンテナユニットのそれぞれの放射素子中を流れる電流の励振方向が互いに異なるアンテナアレイと、 前記複数のアンテナユニットのそれぞれを逐次選択して、該選択されたアンテナユニットを介してマイクロ波を送信して、該マイクロ波を被測定対象部位に照射する送信手段と、 前記被測定対象部位を透過、前記被測定対象部位から反射又は散乱されたマイクロ波を前記選択されたアンテナユニットを含む前記複数のアンテナユニットでそれぞれ受信する受信手段と、 前記受信手段が受信した前記複数のアンテナユニットからの電気信号により逆問題を解析して前記被測定対象部位の電気定数の分布を再構成し、前記再構成された電気定数の分布を画像表示する画像処理ユニットと、 を備え、トモグラフィ処理を実行することを特徴とする診断装置。
IPC (2):
A61B 10/00 ,  A61B 5/05
FI (3):
A61B10/00 B ,  A61B5/05 A ,  A61B10/00 T
F-Term (2):
4C027AA10 ,  4C027EE01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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Article cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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