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J-GLOBAL ID：201801011397136124   Update date: Jan. 30, 2024

Sakurai Kenji

サクライ ケンジ | Sakurai Kenji
Affiliation and department：
国立研究開発法人物質・材料研究機構 先端材料解析研究拠点

About 国立研究開発法人物質・材料研究機構 先端材料解析研究拠点


Job title： 上席研究員
Other affiliations (1)：
Homepage URL  (1)： http://xray-neutron-buried-interface.jp/lab/
Research field  (3)： Thin-film surfaces and interfaces ,  Quantum beam science ,  Analytical chemistry
Research theme for competitive and other funds  (4)：
  • 2008 - 2010 Novel X-ray structure imaging based on the combination of X-ray diffraction and X-ray absorption fine structure
  • 2007 - 2008 Development of time-resolved X-ray reflectometory for real-time studies of structural changes of thin films
  • 2006 - 2006 X線・中性子解析による「埋もれた」界面の科学に関する調査
  • 2005 - 2006 Quick X-ray diffraction imaging for inhomogeneous polycrystalline materials
Papers (226)：
  • Mari MIZUSAWA, Dai YAMAZAKI, Takayoshi ITO, Masahide HARADA, Kenichi OIKAWA, Kenji SAKURAI. Instrumentation of Total-reflection Neutron Induced γ Spectroscopy. Vacuum and Surface Science. 2022. 65. 9. 420-425
  • Yumi Abiko, Yusuke Katayama, Wenyang Zhao, Sawako Horai, Kenji Sakurai, Yoshito Kumagai. The fate of methylmercury through the formation of bismethylmercury sulfide as an intermediate in mice. Scientific Reports. 2021. 11. 1. 17598-17598
  • Mari Mizusawa, Kenji Sakurai. 2D real space visualization of d values in polycrystalline bulk materials of different hardness. Journal of Applied Crystallography. 2021. 54. 2. 597-603
  • Mari Mizusawa, Kenji Sakurai. PROJECTION-TYPE X-RAY DIFFRACTION IMAGING FOR POLYCRYSTALLINE MATERIALS: APPLICATION TO VICKERS HARDNESS TEST BLOCKS. Advances in X-ray Analysis. 2021. 64. 51-57
  • Tetsuya Hoshino, Masahiko Shiono, Banerjee Saswatee, Sadao Aoki, Kenji Sakurai, Masahide Itoh. High accuracy cross-sectional shape analysis by coherent soft x-ray diffraction. Applied Optics. 2020. 59. 28. 8661-8661
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MISC (34)：
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Patents (25)：
  • X線撮像装置及びその使用方法
  • 中性子撮像装置およびその使用方法
  • X線イメージングの方法及び装置
  • 中性子線イメージングの方法及び装置
  • 二酸化炭素の固定化方法
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Books (4)：
  • Introduction to reference-free X-ray fluorescence analysis
    2019 ISBN:4065135982
  • Introduction to X-ray reflectivity - new edition
    Kodansya 2018 ISBN:4061532960
  • 環境・エネルギー材料ハンドブック
    オーム社 2011 ISBN:4274209857
  • X線反射率法入門 (KS物理専門書)
    講談社 2009 ISBN:4061532685
Education (5)：
  • 1985 - 1988 The University of Tokyo Faculty of of Engineering
  • 1983 - 1985 The University of Tokyo Faculty of Engineering
  • 1981 - 1983 The University of Tokyo Faculty of Engineering Department of Engineering Chemistry
  • 1979 - 1981 The University of Tokyo College of Arts and Sciences
  • 1975 - 1978 La Salle High School
Professional career (1)：
  • 工学博士 (東京大学)
Awards (5)：
  • 2020/08 - 公益社団法人 日本分析化学会 先端分析技術賞 JAIMA機器開発賞 新しいX線イメージング技術の開拓
  • 2018/11 - 公益社団法人 日本表面真空学会 技術賞
  • 2009/10 - 株式会社 堀場製作所 2009堀場雅夫賞
  • 1997/04 - 財団法人新技術開発財団 市村学術賞貢献賞
  • 1992/10 - 日本金属学会 奨励賞
Association Membership(s) (6)：
日本中性子学会 ,  日本表面真空学会 ,  THE JAPANESE SOCIETY FOR SYNCHROTRON RADIATION RESEARCH ,  THE JAPAN SOCIETY FOR ANALYTICAL CHEMISTRY ,  THE CHEMICAL SOCIETY OF JAPAN ,  THE JAPAN SOCIETY OF APPLIED PHYSICS
※ Researcher’s information displayed in J-GLOBAL is based on the information registered in researchmap. For details, see here.

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